Forskel mellem AFM og STM Forskel mellem
AFM refererer til Atomic Force Microscope og STM refererer til Scanning Tunneling Microscope. Udviklingen af disse to mikroskoper betragtes som en revolution i atom- og molekylære områder.
Når man snakker om AFM, fanger den præcise billeder ved at flytte en nanometerstortip på tværs af billedets overflade. STM indfanger billeder ved hjælp af kvante tunneling.
Af de to mikroskoper var Scanning Tunneling Microscope den første der blev udviklet.
Til forskel fra STM'en giver sonden direkte kontakt med overfladen eller beregner den begyndende kemiske binding i AFM. STM-billederne indirekte ved at beregne kvantetunnetunnellingen mellem han probe og prøve.
En anden forskel, der kan ses, er, at spidsen i AFM rører overfladen, berører overfladen forsigtigt, mens spidsen i STM holdes kort afstand fra overfladen.
Til forskel fra STM måler AFM ikke tunnelstrømmen, men måler kun den lille kraft mellem overfladen og spidsen.
Det er også set, at AFM-opløsningen er bedre end STM. Derfor er AFM meget udbredt i nano-teknologi. Når man taler om afhængigheden mellem kraft og afstand, er AFM mere kompleks end STM.
Når Scanning Tunneling Microscope normalt finder anvendelse på ledere, er Atomic Force Microscope gældende for både ledere og isolatorer. AFM passer godt med væske- og gasmiljøer, mens STM kun virker i højvakuum.
Sammenlignet med STM, giver AFM en mere topografisk kontrast direkte højde måling og bedre overflade funktioner.
Oversigt
1. AFM indfanger præcise billeder ved at flytte en nanometer-størrelse spids på tværs af billedets overflade. STM indfanger billeder ved hjælp af kvante tunneling.
2. Sonden har direkte kontakt med overfladen eller beregner den begyndende kemiske binding i AFM. STM-billederne indirekte ved at beregne kvantetunnetunnellingen mellem han probe og prøve.
3. Spidsen i AFM berører overfladen forsigtigt på overfladen, mens spidsen holdes i kort afstand fra overfladen i STM.
4. AFM-opløsning er bedre end STM. Derfor er AFM meget udbredt i nano-teknologi.
5. Når Scanning Tunneling Microscope normalt finder anvendelse på ledere, er Atomic Force Microscope gældende for både ledere og isolatorer.
6. AFM passer godt med væske- og gasmiljøer, mens STM kun virker i højvakuum.
7. Af de to mikroskoper var Scanning Tunneling Microscope den første der blev udviklet.
